Программно-аппаратный комплекс для исследования образцов, подвергшихся ионно-электронной бомбардировке

0,00

Цена – по запросу

SKU: 000123 Category: бренды:

Description

Программное обеспечение

На носителе для работы с программой

Диапазон измерений линейных размеров

Наличие

Съемка и хранение изображений

Наличие

Съемка панорам по осям XY

Наличие

Сшивка кадров по оси Z (расширенный фокус)

Наличие

Постобработка и редактирование изображений во внутреннем редакторе

Наличие

Проведение ручных и полуавтоматических измерений на изображениях

Наличие

Проведение ручных измерений на видеопотоке

Наличие

Вычисление статистики по проведенным измерениям

Наличие

Экспорт отчетов в удобном формате Word, Excel, PDF, CSV

Наличие

Индивидуальная настройка бланка отчета под каждого пользователя

Наличие

Индивидуальная настройка интерфейса – цвет, размер шрифтов, линий, линеек, масштабных отрезков и др.

Наличие

Сервисное обслуживание

Наличие

ПО является частью средства измерений и внесено в реестр средств измерений

Наличие

ПО внесено в единый реестр российских программ для электронных вычислительных машин и баз данных

Наличие

Источник питания

От USB-порта компьютера

Напряжение питания, В

5

Тип тока

Постоянный

Система визуального анализа

Цветная цифровая камера

Тип камеры по цветопередаче

Цветной

Число мегапикселей

21

Максимальное разрешение, пикс

5280×3956

Размер сенсора

4/3″

Размер пикселя, мкм

3,3×3,3

Интерфейс

USB

Версия интерфейса

3.2 Gen2 (Type-C)

Светочувствительность, при 1/30 с, мВ

982.8

Отношение сигнал/шум, дБ

43,9

Время выдержки, нижняя граница, мс

0,1

Время выдержки, верхняя граница, с

15

Возможность записи видео

соответствие

Кадровая частота, кадров в секунду @ при разрешении, пикс

240fps@1760×1318;

Выход

USB 3.2 Gen2 (Type-C)

Программное обеспечение

На носителе для работы с программой

Тип крепления

C-Mount

Конструкция базового аппарата

Инвертированный

Поле изображения

Плоское

Методы исследования

Отраженный свет

Метод контрастирования

Светлое поле

Метод контрастирования

Темное поле

Метод контрастирования

Дифференциально-интерференционный контраст

Метод контрастирования

Поляризация

Кратность увеличения объекта при исследовании на аппарате

50–1500

Встроенная линза дополнительного увеличения, крат

≥1,5

Длина тубуса

бесконечность (∞)

Визуальная насадка

тринокулярная

Линза Бертрана

Наличие

Деление светового потока, окуляры/канал визуализации

100/0, 50/50, 0/100

Деление света на правом фотопорте

100/0, 20/80

Деление света на левом фотопорте

100/0, 0/100

Тип визуальной насадки

Зидентопф

Угол наклона визуальной насадки

45

Межзрачковое расстояние, нижняя граница, мм

48

Межзрачковое расстояние, верхняя граница граница, мм

75

Посадочный диаметр линз, визуализирующих объект, мм

30

Воспроизводящая часть, обеспечивающая первую ступень увеличения и расположенная после объекта до плоскости изображения аппарата

Наличие

Узел крепления воспроизводящего устройства

6 объективов разной кратности с ДИК-слотом

Визуализирующая часть включающая, тринокулярную визуальную насадку с наблюдательной системной

Наличие

Линзы, визуализирующей части, крат/поле, мм

10x/23

Коррекцией ±5D на оба окуляра, удаленный зрачок

Наличие

Коррекция объективов

Хроматические абберации, сферические абберации

Комплект объективов, оснащенных специальными флюоритовыми линзами, корректируют искажения для трёх спектральных диапазонов. 

Наличие

Комплект объективов, обеспечивающих коррекцию для четырёх и более длин волн

Наличие

Объективы, метод контрастирования

светлое поле и темное поле

Объектив тип 1, крат

5x

Объектив тип 1, апертура

0,15

Объектив тип 1, рабочее расстояние

20

Объектив тип 2, крат

10x

Объектив тип 2, апертура

0,30

Объектив тип 2, рабочее расстояние

11

Объектив тип 3, крат

20х

Объектив тип 3, апертура

0,45

Объектив тип 3, рабочее расстояние

3,1

Объектив тип 4, крат

50x

Объектив тип 4, апертура

0,80

Объектив тип 4, рабочее расстояние

1

Объектив тип 5, крат

100x

Объектив тип 5, апертура

0,90

Объектив тип 5, рабочее расстояние

1

Парфокальная высота, мм

45

Длина тубуса

бесконечность

Предметный столик базового аппарата

Двухкоординатный трехслойный механический, с коаксиальной ручкой перемещения по осям X/Y с низким расположением и возможностью отклонения

Вставки в столик

Наличие

Размер столика, мм

338×228

Максимальная нагрузка, кг

30

Диапазон перемещения столика по осям X и Y, мм

130/85

Механизм фокусировки

Наличие

Рукоятки грубой и тонкой фокусировки

Коаксиальные

Расположение механизма грубой и тонкой фокусировки

С двух сторон

Эргономичная рукоятка тонкой фокусировки с углублениями под пальцы

С правой стороны

Левая рукоятка тонкой фокусировки с нанесенной контрастной шкалой

Наличие

Ход грубой фокусировки, мм

10

Ход тонкой фокусировки, мм/оборот

0,2

Цена деления тонкой фокусировки, мкм

2

Механизм регулировки жесткости грубой фокусировки

Наличие

Механизм блокировки грубой фокусировки

Наличие

Способ освещения

отраженный свет

Осветительная система отраженного света

турель для установки модулей контраста, полевая и апертурная диафрагмы, поляризатор и анализатор; набор светофильтров

Турель для установки модулей контраста

6-ть позиций

Источник отраженного света

Галогенная лампа с регулируемой яркостью

Мощность, Вт

100 Вт

Устройство для работы методом дифференциально-интерференционного контраста (ДИК). ДИК-слайдер для объективов 5–20х, ДИК-слайдер для объективов 50–100х

Наличие

ДИК-слайдер для объективов, нижняя граница, крат

ДИК-слайдер для объективов, верхняя граница, крат

20х

ДИК-слайдер для объективов, нижняя граница, крат

50х

ДИК-слайдер для объективов, верхняя граница, крат

100х

Reviews

There are no reviews yet.

Be the first to review “Программно-аппаратный комплекс для исследования образцов, подвергшихся ионно-электронной бомбардировке”

Ваш адрес email не будет опубликован. Обязательные поля помечены *